接觸式探針系統

接觸式探針系統

零件側面的孔洞或是溝槽等,以接觸式探針量測
1.聯動式模組保護探針及校正治具
2.自動探針組可快速變更、交換
3.一個按鍵即可切換光學系統與接觸式探針)

產品簡介

接觸式探針系統可以選購添加在Micro-Vu影像系統中,以構建復合傳感器量測系統,輔助影像量測儀完成一些特殊尺寸的量測。利用探針接觸感應來量測工件側面,底面以及平面的尺寸。

Micro-Vu 接觸式探針組包含了用來構成垂直式和多測針式(星型)二種探針配置的組件。

垂直探針使用一支3mm(球徑)x20mm(長度)測針搭配20mm(長度)延長桿和一個探針側頭。

多測針式探針使用四支3mm(球徑)x20mm(長度)測針安裝在一個五向測針座上,五向測針座中心再組合一支30mm(長度)延長桿,然後再結合到探針側頭。

技術參數

模組 SF-標準測力 MF-中測力 EF-高測力
圖片      
應用 適合大多數應用場合 需要高於標準測力的場合 大直徑/偏重測針元件或機器振動造成誤觸發的場合
測力 XY: 0.08N
Z: 0.75N
測針: 10mm
XY: 0.1N
Z: 1.9N
測針: 25mm
XY: 0.1N
Z: 3.2N
測針: 50mm
測針長度 10-50mmGF 10-60mm 10-60mm
適用機型 For Vertex For Vertex & Excel For Excel

*根據客戶實際需求選購